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加長立柱支架 顯微鏡支架 測量平臺

簡要描述:ZJ-3010加長立柱支架 顯微鏡支架 測量平臺
測量精度:0.01mm
工作行程:30*30mm
玻璃臺面直徑:100MM
接口可接:95mm工作臺面
平臺外型尺寸:150*150mm
鏡框類型:Φ48mm 鏡框
立柱高度:260mm
立柱直徑:25mm
底座類型:平板底座
底座形狀:矩形
立臂到成像中心距離:10~60mm
調焦方式:手動調焦行程:Φ48mm

  • 產品型號:ZJ-3010
  • 更新時間:2025-01-01
  • 產品資料:

ZJ-3010加長立柱支架 顯微鏡支架 測量平臺

產品特性:

測量精度:0.01mm

工作行程:30*30mm

玻璃臺面直徑:100MM

接口可接:95mm工作臺面

平臺外型尺寸:150*150mm

鏡框類型:Φ48mm 鏡框

立柱高度:260mm

立柱直徑:25mm

底座類型:平板底座

底座形狀:矩形

立臂到成像中心距離:10~60mm

調焦方式:手動調焦行程:Φ48mm

粗調單圈行程:Φ20x1.22mm

凈重:2.96kg (6.53lbs)

外觀尺寸:375x245x293mm (14.764x9.646x11.535″)
底座尺寸:320x305x16mm

臺板類型:黑白臺板

臺板材質:塑料

臺板規格:Φ95x5mm

顏色:黑色,白色


ZJ-3010加長立柱支架 顯微鏡支架 測量平臺

北京派迪威儀器有限公司(簡稱:派迪威)是一家集光學、精密機械、自動化控制等技術于一體的高科技自主研發企業。自2005年起一直服務于科研大專院校根據客戶需求,研發配套軟硬件系統產品(光路搭建、軟件開發、機械電路設計等)通過長期的不懈努力、對光路搭建系統的工藝把控和對客戶的優良服務,在科研、大專院校、機械自動化等諸多領域成長為廠商。






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